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TECHNICAL ARTICLES光譜CCD(電荷耦合器件)是基于半導(dǎo)體光電效應(yīng)的光電傳感器
2025-10-14 CCD光譜儀(電荷耦合器件)主要用于將光信號轉(zhuǎn)換為電信號進(jìn)行光譜分析,廣泛應(yīng)用于物質(zhì)成分檢測、光學(xué)特性分析等領(lǐng)域。通過將光信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,實現(xiàn)波長范圍(如200-2400nm)內(nèi)的光譜數(shù)據(jù)采集與解析,支持微弱光檢測環(huán)境下的高精度測量。光譜CCD的工作原理基于光電效應(yīng)和電荷存儲/轉(zhuǎn)移機(jī)制,與普通成像CCD(如相機(jī)CCD)的核心差異在于:更側(cè)重“波長分辨能力”和“光強(qiáng)檢測精度”,而非“圖像清晰度”。具體過程可分為4步:光吸收與電荷產(chǎn)生:光譜儀通過光柵、棱鏡等光學(xué)元件,將入射的...顯微分光膜厚儀是結(jié)合顯微鏡與分光光度技術(shù)的高精度薄膜厚度測量儀器
2025-09-03 顯微分光膜厚儀是一種基于光的干涉和分光原理的高精度測量儀器,主要用于非破壞性、非接觸地測量薄膜、晶片、光學(xué)材料及多層膜的厚度,并分析其光學(xué)常數(shù)(如折射率、消光系數(shù))。通過顯微光譜法測量微小區(qū)域的光譜反射率,當(dāng)光線在薄膜前后表面多次反射形成干涉條紋時,分光技術(shù)將干涉條紋分解為不同波長的光譜,并測量其強(qiáng)度分布,通過算法計算膜厚及光學(xué)參數(shù)。顯微分光膜厚儀通過光的干涉與分光原理實現(xiàn)非破壞性、非接觸式測量。當(dāng)光線照射到薄膜表面時,在薄膜前后表面多次反射形成干涉條紋,分光技術(shù)將這些條紋分...Andor光譜儀在環(huán)境監(jiān)測中的應(yīng)用與效果
2025-08-20 Andor光譜儀憑借其高靈敏度和精確的光譜分析能力,在環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用,為環(huán)境保護(hù)提供了可靠的技術(shù)支持。??1、大氣環(huán)境監(jiān)測??能夠精確檢測大氣中的微量氣體成分。通過分析這些氣體在特定波長范圍內(nèi)的吸收特征,可以準(zhǔn)確評估空氣質(zhì)量,追蹤污染源擴(kuò)散路徑。在溫室氣體監(jiān)測方面,光譜儀對二氧化碳、甲烷等關(guān)鍵氣體的微量變化具有較高靈敏度,為氣候變化研究提供數(shù)據(jù)支撐。對大氣氣溶膠的光學(xué)特性分析,有助于理解顆粒物污染的形成機(jī)制和分布規(guī)律。??2、水質(zhì)監(jiān)測應(yīng)用??在水體污染檢測中,An...公司郵箱: qgao@buybm.com
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀