WT-2000半導體多功能測試

產(chǎn)品簡介
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數(shù)測試。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-12-01

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：986

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

保護銀膜反射鏡的幾種方法和措施

便攜式拉曼光譜儀的主要原理一起了解下

一文詳細解讀顯微共聚焦拉曼系統(tǒng)的技術(shù)指標和主要功能

詳細盤點便攜式激光拉曼光譜儀的產(chǎn)品特點及其技術(shù)參數(shù)

詳細介紹在線留言

· Measurement Options.
· μ-PCD 技術(shù)做少子壽命掃描測試
· 表面光電壓(SPV)做擴散長度面掃描測試
· 光誘導電流(LBIC)測試材料缺陷分布
· 測試特定金屬雜質(zhì)和沾污:Fe
· 渦流法測試電阻率
· 4探針測試電阻率

WT-2000半導體多功能測試

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)